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镀层测厚仪

详细摘要：产品描述：M1 MISTRAL 是一款紧凑型的台式 μ-XRF 光谱仪，用于分析块状材料和涂层。
产品型号：M1 MISTRAL所在地：上海市更新时间：2025-05-12 在线留言
大尺寸镀层测厚仪

详细摘要：产品描述：M2 BLIZZARD采用开槽设计，适用于扁平形状和尺寸过大的样品
产品型号：M2 BLIZZARD所在地：上海市更新时间：2025-05-12 在线留言
X射线镀层测厚仪

详细摘要：产品描述：M1 ORA是适用于珠宝行业的台式微区X射线荧光光谱仪（μ-XRF）
产品型号：M1 ORA所在地：上海市更新时间：2025-05-12 在线留言
开槽台式微区XRF光谱仪M2 BLIZZARD

详细摘要：开槽台式微区XRF光谱仪M2 BLIZZARDM2 BLIZZARD是布鲁克公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪，依据ASTMB568和DIN/ISO 3497...
产品型号：M2 BLIZZARD所在地：广州市更新时间：2018-05-14 在线留言
紧凑型台式μ-XRF光谱仪M1 MISTRAL

详细摘要： M1 MISTRAL的应用领域很广，我们选择常见的例子进行介绍测量镀层样品：采用X射线荧光技术的M1 MISTRAL可以分析薄镀层样品，如印刷电路板、金属或塑料...
产品型号：所在地：上海更新时间：2018-05-14 在线留言
x-ray 镀层测厚仪M4 TORNADO

详细摘要： •微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的*方法。采用多导毛细管聚焦镜将激发光聚焦到非常小...
产品型号：所在地：上海更新时间：2018-05-14 在线留言
x-ray 镀层测厚仪M1 ORA

详细摘要： M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成，分析元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素。
产品型号：所在地：上海更新时间：2018-05-14 在线留言
全反射X射线荧光光谱仪 S2 PICOFOX

详细摘要：反射X射线荧光光谱仪的工作原理（TXRF） X射线荧光光谱分析法(XRF)的原理：原子受原级X射线激发后，发出次级X射线荧光。因此，XRF 分析法可以：  根...
产品型号：所在地：上海更新时间：2018-05-14 在线留言